Název: Vybrané metody pro studium povrchu pevných látek
Překlad názvu: Selected methods of solid state surface study
Autoři: Král, Robert
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Škola růstu krystalů 2010, Bořetice (CZ), 2010-08-31 / 2010-09-01
Rok: 2010
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
V příspěvku jsou uvedeny hlavní rysy a zařízení metod LEED, RHEED, ISS, SIMS, AFM a TPD používaných ke studiu vlastností a charakterizací povrchu pevných látek. In this paper there are basic characterizations and equipments of LEED, RHEED, ISS, SIMS, AFM and TPD methods for study of properties and characterization of solid state surfaces.
Klíčová slova: AFM; ISS; LEED; SIMS; solid state; spectroscopy; surface
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP)
Zdrojový dokument: Škola růstu krystalů 2010, ISBN 978-80-254-7238-5

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0006646

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-71554


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference