host ::
| Hlavní stránka > Konferenční materiály > Příspěvky z konference > An enhanced theoretical approach for accurate measurements of the optical and energy characteristics of semiconducting materials |
Název:
An enhanced theoretical approach for accurate measurements of the optical and energy characteristics of semiconducting materials
Autoři: Allaham, Mohammad M. ; Košelová, Zuzana ; Sobola, Dinara ; Fohlerová, Zdenka ; Knápek, Alexandr
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The absorption coefficient is an important optical property in characterizing semiconducting materials. It plays a significant role in studying optical characteristics, electrical structure, energy band structure, and the creation/annihilation of excitons when a semiconducting material absorbs electromagnetic radiation. In this study, an enhanced theoretical model will be introduced and applied to characterize thin films prepared from UPR4 (unsaturated polyester resin) single-component epoxy resin, which is important to study the charge flow at the interface of tungsten-UPR4 composite field emission cathodes.
Klíčová slova: absorption coefficient; and reflectance; energy gap; Tauc plot; transmittance; Urbach tailing energy
Zdrojový dokument: Proceedings II of the 30st Conference STUDENT EEICT 2024: Selected papers, ISBN 978-80-214-6230-4, ISSN 2788-1334
Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/249311
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-622569
Autoři: Allaham, Mohammad M. ; Košelová, Zuzana ; Sobola, Dinara ; Fohlerová, Zdenka ; Knápek, Alexandr
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The absorption coefficient is an important optical property in characterizing semiconducting materials. It plays a significant role in studying optical characteristics, electrical structure, energy band structure, and the creation/annihilation of excitons when a semiconducting material absorbs electromagnetic radiation. In this study, an enhanced theoretical model will be introduced and applied to characterize thin films prepared from UPR4 (unsaturated polyester resin) single-component epoxy resin, which is important to study the charge flow at the interface of tungsten-UPR4 composite field emission cathodes.
Klíčová slova: absorption coefficient; and reflectance; energy gap; Tauc plot; transmittance; Urbach tailing energy
Zdrojový dokument: Proceedings II of the 30st Conference STUDENT EEICT 2024: Selected papers, ISBN 978-80-214-6230-4, ISSN 2788-1334
Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/249311
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-622569
Záznam vytvořen dne 2024-07-21, naposledy upraven 2024-07-21.