Název: Test benches for microcontroller kits
Autoři: Žaludek, Ivo ; Arm, Jakub ; Bradáč, Zdeněk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This paper deals with the design of a test bench for modules used in educational labs. The first section outlines the requirements for the tester, followed by a description of the printed circuit board design process. Implementation details of the software are then examined, including a graphical user interface based on Model-View-Controller (MVC) architecture that allows for easy result printing. The obtained results are presented, and further work is discussed.
Klíčová slova: automated testing; functional testing; hardware development; megaAVR; MVC architecture
Zdrojový dokument: Proceedings I of the 30st Conference STUDENT EEICT 2024: General papers, ISBN 978-80-214-6231-1, ISSN 2788-1334

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/249226

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-622563

 Záznam vytvořen dne 2024-07-21, naposledy upraven 2024-07-21.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet