Název: Diagnostika polovodičových materiálů metodou EBIC
Překlad názvu: Diagnostic of semiconductor materials by EBIC method
Autoři: Kuznetsov, Vitalii ; Vaněk, Jiří (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2024
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: difuzní délka nosičů.; doba života nosičů; interakce PE s pevnou látkou; měření proudu indukovaného svazkem; polovodiče; Rastrovací elektronový mikroskop; carrier lifetimes; diffusion length.; electron beam inducted current; interaction of PE with solid; Scanning electron microscope; semiconductors

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/246875

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-619764


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2024-06-22, naposledy upraven 2024-06-22.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet