Název: Využití měřicí metody SPM v technologii výroby krystalických solárních článků
Překlad názvu: The Use of AFM Measurement Method in Crystalline Silicon Solar Cells Technology
Autoři: Mojrová, Barbora ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Hégr, Ondřej (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2013
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: AFM; KPFM; mikroskopie atomárních sil; mikroskopie Kelvinovou sondou; Mikroskopie rastrující sondou; solární článek.; SPM; AFM; Atomic Force Microscopy; Kelvin Probe Force Microscopy; KPFM; Scanning Probe Microscopy; Solar cell.; SPM

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/27352

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-608990


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet