Název: Návrh a sestavení laboratorního vzoru laserového deflektometru pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách
Překlad názvu: Design and set up of a laboratory sample of a laser deflectometer for measurement of mechanical stress within thin films
Autoři: Šustek, Štěpán ; Klapetek,, Petr (oponent) ; Ohlídal, Miloslav (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2016
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Předkládaná diplomová práce se zabývá návrhem laboratorní verze přístroje pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách - laserového deflektometru, jeho konstrukčním řešením a ověřením funkčnosti. Vlastní text práce je členěn do pěti kapitol. První z nich se zabývá rozborem mechanického napětí a jeho vlivem na systém podložka - tenká vrstva. Druhá kapitola popisuje různé typy přístrojů běžně používané pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách, shrnuje jejich výhody a nevýhody. Ve třetí kapitole je prezentováno několik možných variant zmíněné přístroje, z nichž byla jedna vybrána pro realizaci. Čtvrtá kapitola se zaměřuje na konstrukční řešení přístroje, v páté kapitole jsou uvedeny výsledky experimentálního měření provedeného na přístroji pro ověření jeho funkčnosti. This diploma thesis describes the design of a device for measuring stress in thin films – laser deflectometer, realization of its design and its experimental testing. The thesis is divided into five chapters. The first chapter deals with the stress in thin films and its influence on substrate – thin film system. The second chapter provides an overview of devices widely used for measuring stress in thin films and describes some their advantages and disadvantages. In the third chapter some design possibilities of the device are presented. The final solution of device called deflectometr is introduced in the fourth chapter. The last chapter includes the functional testing the device.
Klíčová slova: deflektometr.; deformace podložky; Mechanické napětí; tenké vrstvy; deflectometr.; deformation if a substrate; Mechanical stress; thin films

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/60800

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-602897


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce