|
|
Návrh a sestavení laboratorního vzoru laserového deflektometru pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách
Šustek, Štěpán ; Klapetek,, Petr (oponent) ; Ohlídal, Miloslav (vedoucí práce)
Předkládaná diplomová práce se zabývá návrhem laboratorní verze přístroje pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách - laserového deflektometru, jeho konstrukčním řešením a ověřením funkčnosti. Vlastní text práce je členěn do pěti kapitol. První z nich se zabývá rozborem mechanického napětí a jeho vlivem na systém podložka - tenká vrstva. Druhá kapitola popisuje různé typy přístrojů běžně používané pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách, shrnuje jejich výhody a nevýhody. Ve třetí kapitole je prezentováno několik možných variant zmíněné přístroje, z nichž byla jedna vybrána pro realizaci. Čtvrtá kapitola se zaměřuje na konstrukční řešení přístroje, v páté kapitole jsou uvedeny výsledky experimentálního měření provedeného na přístroji pro ověření jeho funkčnosti.
|
|
|
Návrh rozšíření spektrometru pro měření absolutní odrazivosti
Šustek, Štěpán ; Antoš, Martin (oponent) ; Klus, Jakub (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá návrhem nástavce a jeho konstrukčním řešením pro měření absolutní odrazivosti pomocí přístroje Perkin Elmer Lambda 45. Práce je rozdělená celkem do tří částí. První část se zabývá základní teorií optiky, jejíž znalost je potřeba pro správnou funkci optické části. Druhá část obsahuje přehled uspořádání nástavců používaných v praxi pro měření jak relativní, tak absolutní odrazivosti. Poslední část zahrnuje optické a konstrukční řešení nástavce.
|
|
|
Návrh a sestavení laboratorního vzoru laserového deflektometru pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách
Šustek, Štěpán ; Klapetek,, Petr (oponent) ; Ohlídal, Miloslav (vedoucí práce)
Předkládaná diplomová práce se zabývá návrhem laboratorní verze přístroje pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách - laserového deflektometru, jeho konstrukčním řešením a ověřením funkčnosti. Vlastní text práce je členěn do pěti kapitol. První z nich se zabývá rozborem mechanického napětí a jeho vlivem na systém podložka - tenká vrstva. Druhá kapitola popisuje různé typy přístrojů běžně používané pro měření mechanického napětí v tenkých vrstvách, shrnuje jejich výhody a nevýhody. Ve třetí kapitole je prezentováno několik možných variant zmíněné přístroje, z nichž byla jedna vybrána pro realizaci. Čtvrtá kapitola se zaměřuje na konstrukční řešení přístroje, v páté kapitole jsou uvedeny výsledky experimentálního měření provedeného na přístroji pro ověření jeho funkčnosti.
|
|
|
Návrh rozšíření spektrometru pro měření absolutní odrazivosti
Šustek, Štěpán ; Antoš, Martin (oponent) ; Klus, Jakub (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá návrhem nástavce a jeho konstrukčním řešením pro měření absolutní odrazivosti pomocí přístroje Perkin Elmer Lambda 45. Práce je rozdělená celkem do tří částí. První část se zabývá základní teorií optiky, jejíž znalost je potřeba pro správnou funkci optické části. Druhá část obsahuje přehled uspořádání nástavců používaných v praxi pro měření jak relativní, tak absolutní odrazivosti. Poslední část zahrnuje optické a konstrukční řešení nástavce.
|
host ::
RSS.