Original title: Přesná měření vlastností polovodičových součástek
Translated title: Precise measurement of semiconductors
Authors: Smělík, Martin ; Šebesta, Jiří (referee) ; Dřínovský, Jiří (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2009
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce bylo navrhnout laboratorní pracoviště pro přesná měření stálosti výstupních parametrů polovodičových součástek. Součástí je také termostat, který udržuje konstantní teplotu proměřované součástky. Celý laboratorní přípravek je ovládán pomocí počítače přes rozhraní USB. Na počítači je vytvořen program v ovládacím prostředí Agilent VEE pro automatizované měření těchto polovodičových součástek. The aim of this bachelor´s thesis was design a laboratory workplace for precise measurement of the stability output parameters of semiconductors. The thermostat is also part of this workplace. The thermostat is maintaining a constant temperature measured semiconductor. The entire laboratory preparation is controlled by a computer via USB. The program is created in control environment Agilent VEE for automatic measurement that semiconductor components.
Keywords: Agilent VEE; automatic measurement; microcontroller; semiconductor component; thermostat; USB; Agilent VEE; automatické měření; mikrokontrolér; polovodičová součástka; termostat; USB

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/2935

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-601159


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses