Název:
Využitie slepej filtrácie obrazu pre snímky z TEM mikroskopov
Překlad názvu:
Using blind image filtering for images from TEM microscopes
Autoři:
Nováková, Kateřina ; Mézl, Martin (oponent) ; Potočňák, Tomáš (vedoucí práce) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2018
Jazyk:
eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [eng][cze]
Předložená práce se zabývá problematikou slepé filtrace obrazů z transmisního elektronového mikroskopu. V úvodu práce je uveden popis transmisního elektronového mikroskopu. Navazující část popisuje mechanismy interakce elektronů se zkoumaným vzorkem a z toho vyplývající zobrazovací techniky elektronové mikroskopie. Poslední kapitola teoretické části práce zahrnuje popis vybraných metod slepé filtrace obrazu zejména s využitím dekompozice obrazu na charakteristické složky. Taktéž je zde uveden výčet metod pro zhodnocení úspěšnosti filtrace. V praktické části jsou popsány aplikované metody slepé filtrace obrazů a výsledky filtrování. Jednotlivé metody jsou mezi sebou porovnány. Získané výsledky a využitelnost aplikovaných metod jsou zhodnoceny v diskuzi.
This work deals with the blind filtration of the images from the transmission electron microscope. At the beginning of this work there is a basic description of the transmission electron microscope. Following part describes the mechanisms of electron interactions with the observed specimen. Description of basic electron microscopy imaging techniques is included. The last chapter of the theoretical part includes the description of several chosen blind image filtration techniques, especially those using the decomposition of the image into characteristic components. It also contains a summary of methods for evaluation the filtration effectiveness. The practical part focuses on a description of applied blind filtering methods and brings the results of the filtration. Individual methods are compared. In conclusion, the obtained results and usability of the applied methods are discussed.
Klíčová slova:
blind filtering; EMD; ICA.; SVD; TEM; transmission electron microscopy; EMD; ICA.; slepá filtrace; SVD; TEM; transmisní elektronová mikroskopie
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/81551