Název: Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Překlad názvu: Study of beta phase in Al-Mg-Si alloys by means of unconventional methods of electron microscopy
Autoři: Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2014
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický. Aluminium Al-Mg-Si alloys are the most commonly used in automotive and construction industry. Hexagonal ’-phase is one of the metastable phases occured in this type of alloys. Unlike classic square -phase, this ’-phase is characterized by different crystalographic orientation to the matrix and shape. Standard method used for identification of aluminium alloys is scanning electron microscopy (SEM), because of its quickness and efficiency, but in case of very thin or damaged structures (as a result of metallographic process) it’s insufficient. Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) can be appropriate for identification of mentioned precipitates due to its physical principles resulting in many advantages compared to SEM. So the most important benefits are interaction volume reduction (which leads to improvement of surface sensitivity), increase of material contrast (ability to change matrix / precipitates contrast) as well as crystalographic contrast.
Klíčová slova: Al-Mg-Si; Elektronová mikroskopie; katodová čočka; nízkonapěťová elektronová mikroskopie; Al-Mg-Si; cathode lens; Electron microscopy; low-voltage scanning electron microscopy; SLEEM

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/32796

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-550990


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce