Original title: Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Translated title: Study of beta phase in Al-Mg-Si alloys by means of unconventional methods of electron microscopy
Authors: Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (referee) ; Mikmeková, Šárka (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2014
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract: [cze] [eng]
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický. Aluminium Al-Mg-Si alloys are the most commonly used in automotive and construction industry. Hexagonal ’-phase is one of the metastable phases occured in this type of alloys. Unlike classic square -phase, this ’-phase is characterized by different crystalographic orientation to the matrix and shape. Standard method used for identification of aluminium alloys is scanning electron microscopy (SEM), because of its quickness and efficiency, but in case of very thin or damaged structures (as a result of metallographic process) it’s insufficient. Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) can be appropriate for identification of mentioned precipitates due to its physical principles resulting in many advantages compared to SEM. So the most important benefits are interaction volume reduction (which leads to improvement of surface sensitivity), increase of material contrast (ability to change matrix / precipitates contrast) as well as crystalographic contrast.
Keywords: Al-Mg-Si; cathode lens; Electron microscopy; low-voltage scanning electron microscopy; SLEEM; Al-Mg-Si; Elektronová mikroskopie; katodová čočka; nízkonapěťová elektronová mikroskopie

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/32796

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-550990


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses