Název: Měření tloušťky vrstev odprášeného materiálu ze vzorku v elektronovém mikroskopu
Překlad názvu: Measuring the Thickness of Material Layers Removed from a Sample in an Electron Microscope
Autoři: Kutálek, Jiří ; Hříbek, David (oponent) ; Čadík, Martin (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2023
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: Cut-face Edge Detection; Dual-beam Scanning Electron Microscope; Referential Dot Pattern; Slice And View Approach; Slice Thickness Measurement; Detekce hrany cut-face; Měření tloušťky vrstev odprášeného materiálu; Referenční tečkovaný vzor; Skenovací elektronový mikroskop “dual-beam”; Slice And View přístup

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/211952

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-530217


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2023-07-23, naposledy upraven 2023-08-06.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet