Název: Lithographic thin–film structures based on Electrochromic materials: Case study by scanning probe microscopy
Autoři: Misiurev, Denis
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The main object of this study will be based on producing and characterization of lithographic thin–film structures produced based electrochromic materials. Atomic force microscopy will be used as a main method of evaluation the morphology of lithographic structures. The optical properties of eslectrochromic materials will be analyze using scanning near–field optical microscopy by applying different electrical potential.
Klíčová slova: AFM; electrochromic materials; SNOM; thin–films
Zdrojový dokument: Proceedings I of the 28st Conference STUDENT EEICT 2022: General papers, ISBN 978-80-214-6029-4

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/209375

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-524802


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference