Název: Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky
Překlad názvu: Contrast enhancement of nanostructures imaging in STM by a direct profile derivative measurement using lock-in technique
Autoři: Keresteš, Jiří ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2013
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá přímým měřením derivace profilu povrchu podél řádku (dz/dx) v řádkovacím tunelovém mikroskopu (STM) metodou synchronní detekce. V rámci práce byl do stávající řídící elektroniky STM vestavěn komerční lock-in zesilovač FEMTO spolu s podpůrnými obvody umožňujícími měření derivace dz/dx. Jeho funkčnost byla otestována při měření na čistém povrchu Si(100)-2×1 a na stejném povrchu s napařenými In-Sn řetízky. Data získaná z měření derivace byla srovnána s daty z měření profilu povrchu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org) The thesis aims to study a method of direct profile derivative measurement along the line (dz/dx) by a scanning tunneling microscope (STM) using the lock-in technique. A commercial lock-in amplifier module FEMTO has been equipped with support circuit and installed into the current STM system. Its functionality was tested by measuring on a clean Si(100)-2×1 surface and on the same surface with deposited In-Sn chains. The data acquired from the derivative measurement were compared with the profile measurement data. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/54698

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-473015


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce