Keresteš, Jiří - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: Keresteš, Jiří

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky Keresteš, Jiří ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent) Tato práce se zabývá přímým měřením derivace profilu povrchu podél řádku (dz/dx) v řádkovacím tunelovém mikroskopu (STM) metodou synchronní detekce. V rámci práce byl do stávající řídící elektroniky STM vestavěn komerční lock-in zesilovač FEMTO spolu s podpůrnými obvody umožňujícími měření derivace dz/dx. Jeho funkčnost byla otestována při měření na čistém povrchu Si(100)-2×1 a na stejném povrchu s napařenými In-Sn řetízky. Data získaná z měření derivace byla srovnána s daty z měření profilu povrchu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org) Úplný záznam
	Morfologie modelových katalyzátorů v prostředí elektrolytu Keresteš, Jiří ; Mysliveček, Josef (vedoucí práce) ; Bystroň, Tomáš (oponent) Předmětem práce je příprava inverzního modelového katalyzátoru CeOx/Pt(111) a jeho studium kombinací metod povrchové fyziky a elektrochemie. Pro elektrochemická měření byla navržena a zkousntruována nová elektrochemická cela. Připravené vrstvy CeOx/Pt(111) byly charakterizovány ve vakuu metodami STM a XPS, poté přeneseny do elektrolytu a tam charakterizovány metodou cyklické voltametrie a AFM. Pro vysoká pokrytí CeOx byla ve voltamogramech pozorována nová reakce, kterou jsme identifikovali jako kombinaci redukce CeO2 vodíkem adsorbovaným na povrchu Pt(111) a zpětné oxidace Ce2 O3 disociativní adsorpcí molekul vody. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org) Úplný záznam
	Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky Keresteš, Jiří ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent) Tato práce se zabývá přímým měřením derivace profilu povrchu podél řádku (dz/dx) v řádkovacím tunelovém mikroskopu (STM) metodou synchronní detekce. V rámci práce byl do stávající řídící elektroniky STM vestavěn komerční lock-in zesilovač FEMTO spolu s podpůrnými obvody umožňujícími měření derivace dz/dx. Jeho funkčnost byla otestována při měření na čistém povrchu Si(100)-2×1 a na stejném povrchu s napařenými In-Sn řetízky. Data získaná z měření derivace byla srovnána s daty z měření profilu povrchu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org) Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English