Název: Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy
Autoři: Mikmeková, Šárka ; Hovorka, Miloš ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk ; Man, O. ; Pantělejev, L. ; Kouřil, M.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Mikroskopie 2010, Nové Město na Moravě (CZ), 2010-02-17 / 2010-02-18
Rok: 2010
Jazyk: eng
Abstrakt: Detection of a strain in the microscopic scale is very important under multiple circumstances.
Klíčová slova: SEM; SLEEM; UFG
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Zdrojový dokument: Mikroskopie 2010, ISBN N

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0006216

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42289


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference