Název:
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy
Autoři:
Mikmeková, Šárka ; Hovorka, Miloš ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk ; Man, O. ; Pantělejev, L. ; Kouřil, M. Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Mikroskopie 2010, Nové Město na Moravě (CZ), 2010-02-17 / 2010-02-18
Rok:
2010
Jazyk:
eng
Abstrakt: Detection of a strain in the microscopic scale is very important under multiple circumstances.
Klíčová slova:
SEM; SLEEM; UFG Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP) Zdrojový dokument: Mikroskopie 2010, ISBN N
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0006216