Název: Microcode-Controlled Ram Bist
Autoři: Lukáš, Vykydal
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This paper deals with memory testing principles, focusing mainly on March algorithms. It describes their usage on word based memories. In second part it proposes small programmable BIST controller that can be used in digital circuits.
Klíčová slova: counters; March algorithms; memory BIST; memory testing
Zdrojový dokument: Proceedings of the 23st Conference STUDENT EEICT 2017, ISBN 978-80-214-5496-5

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/187093

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-414753


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference