Název: Mapping the Local Density of States by Very Low Energy Scanning Electron Microscope
Autoři: Pokorná, Zuzana ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./, Brno (CZ), 2009-08-10 / 2009-08-14
Rok: 2009
Jazyk: eng
Abstrakt: Single crystal and polycrystalline aluminium samples were imaged in the scanning low energy electron microscopes at energies of impinging electrons ranging between 0 and 90 eV. The integrated image signal at each energy was calculated and the resulting reflectance curves were compared to electron structure calculations. The influence of vacuum conditions and cleanliness of the substrate surface are discussed.
Klíčová slova: polycrystalline aluminium; scanning low energy electron microscopes
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Zdrojový dokument: Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09), ISBN 978-80-254-4535-8

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0179804

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-40970


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference