host ::
přihlásit
Digitální repozitář
Hledej
Nový záznam
Nápověda
O repozitáři
Hlavní stránka
>
Vysokoškolské kvalifikační práce
>
Diplomové práce
> Mikrostruktury mimikující povrch tlapky gekona
Informace
Soubory
Název:
Mikrostruktury mimikující povrch tlapky gekona
Překlad názvu:
Gecko mimicking surfaces
Autoři:
Fecko, Peter
;
Boušek, Jaroslav
(oponent) ;
Pekárek, Jan
(vedoucí práce)
Typ dokumentu:
Diplomové práce
Rok:
2019
Jazyk:
eng
Nakladatel:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt:
[eng]
[cze]
Adhezní schopnosti gekona byly předmětem mnoha studií a inspirací pro vytvoření mnoha napodobenin. Tato práce navrhuje vlastní verzi umělých gekoních struktur ve tvaru mikroskopických pilířů, které by vykazovaly adhezní vlastnosti srovnatelné s tlapkou gekona. Vyrobeny byli struktury z polymeru Parylen C pomocí fotolitografie a technik na leptání křemíku. Dalším cílem bylo různými metodami pro modifikaci povrchu a charakterizaci vytvořených struktur, které určí adhezní síly těchto povrchů, před a po modifikacích.
Adhesive capabilities of a gecko lizard have been the subject of many studies and an inspiration for many artificial imitations and inventions. This work proposes a design version of synthetic gecko structures in a form of micro-pillars, that would have similar adhesion capabilities as gecko setae. Structures made of Parylene C polymer have been created using photolithography and silicon etching techniques. Following focus was on various methods of surface modifications and characterisation of these structures to determine the adhesion forces on their surface, before and after modifications.
Klíčová slova:
adhesion promotors
;
adhesive setae
;
atomic force microscopy (AFM)
;
atomic layer deposition (ALD)
;
biomimetics
;
contact angle measurement
;
gecko adhesion
;
Parylene C
;
reactive ion etching
;
scanning electron microscopy (SEM)
;
van der Waals force
;
XeF2 etching
;
adheze gekona
;
adhezní promotéry
;
adhezní struktury
;
biomimetika
;
depozice atomárních vrstev (ALD)
;
leptání reaktivní plasmou
;
leptání v XeF2
;
mikroskopie atomárních sil (AFM)
;
měření kontaktního uhlu
;
Parylen C
;
rastrovací elektronová mikroskopie (SEM)
;
van der Waalsovy síly
Instituce:
Vysoké učení technické v Brně (
web
)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam:
http://hdl.handle.net/11012/177763
Trvalý odkaz NUŠL:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-400722
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství
>
Veřejné vysoké školy
>
Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce
>
Diplomové práce
Záznam vytvořen dne 2019-08-26, naposledy upraven 2022-09-04.
Podobné záznamy
Není přiložen dokument
Exportovat ve formátu
DC
,
NUŠL
,
RIS
Sdílet