Original title: Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
Translated title: Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques
Authors: Čermák, Jan ; Rezek, Bohuslav ; Cimrová, Věra ; Hörhold, H. H. ; Ledinský, Martin ; Fejfar, Antonín
Document type: Papers
Conference/Event: Česká fotovoltaická konference /3./, Brno (CZ), 2008-11-03 / 2008-11-05
Year: 2008
Language: cze
Abstract: [cze] [eng]
Studium strukturních, elektrických a optoelektronických heterostruktur pomocí AFM, KFM, CS-AFM a mapování mikro-Ramanova rozptylu. Study of morphologic, electronic and optoelectronic properties of organic heterostructures by AFM, KFM, CS-AFM and micro-Raman mapping.
Keywords: AFM; KFM; organic semiconductors; photovoltaics; Raman scattering
Project no.: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), CEZ:AV0Z40500505 (CEP), LC06040 (CEP), KAN400100701 (CEP), LC510 (CEP), GD202/05/H003 (CEP)
Funding provider: GA MŠk, GA AV ČR, GA MŠk, GA ČR
Host item entry: Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference, ISBN 978-80-254-3528-1

Institution: Institute of Physics AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0169605

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-39873


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Physics
Conference materials > Papers