Original title: Charakterizace solárních multikrystalických článků metodou LBIC s různými vlnovými délkami
Translated title: Characterization of multicrystalline solar cells with LBIC method in different wavelength
Authors: Fořt, Tomáš ; Jandová, K. ; Vaněk, J. ; Boušek, J.
Document type: Papers
Conference/Event: Česká fotovoltaická konference /3./, Brno (CZ), 2008-11-03 / 2008-11-05
Year: 2008
Language: cze
Abstract: [cze] [eng]
Pro určování defektů v solárních článcích byla použita metoda LBIC (Light Beam Induced Current). Nově zde bylo využito jako zdroj světla LED o různých vlnových délkách pro odhalení odlišných typů defektů. Výhodou použití více vlnových délek je možnost odhalování defektů v různé hloubce. Povrchové defekty lze pozorovat při krátkých vlnových délkách použitého zdroje světla (400nm a 470nm). Oblast přechodu je pak dobře pozorovatelná při vlnových délkách blízkých 525nm. Pro oblast defektů v základním materiálu je vhodné použití světla s vlnovou délkou 630nm nebo 890nm. For the determination of defects in the solar cells was used a method LBIC (Light Beam Induced Current). We use LED light source with various wavelengths to reveal the different types of defects. Using multiple wavelengths enables detecting defects in different depths. Surface defects can be observed in shorter wavelengths (400nm and 470nm). The junction region is well observed at wavelengths close to 525nm. Defects in the base material are visible using the light at a wavelength of 630nm or 890nm.
Keywords: detecting defects; LBIC; multicrystalline silicon
Project no.: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Host item entry: Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference, ISBN 978-80-254-3528-1

Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0169590

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-39867


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Scientific Instruments
Conference materials > Papers