Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 33 záznamů.  1 - 10dalšíkonec  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
SMV-2021-57: Návrh technologie přípravy a realizace vrstvového systému na plastový nosič
Fořt, Tomáš
Návrh technologie přípravy a realizace vrstvových systémů nanesených na plastový nosič představoval nalezení takových parametrů depozice, kdy není degradován polymerní substrát teplem vznikajícím při depozici magnetronovým naprašováním a přitom čas depozice byl limitován na minimální ekonomicky přijatelnou dobu.
SMV-2021-58: Návrh technologie přípravy a realizace vrstvového systému antireflexních vrstev a tenké transparentní vyhřívací vrstvy
Fořt, Tomáš
Návrh technologie přípravy a realizace vrstvových systémů nanesených na skleněné podložky s požadavkem minimalizace odrazů na rozhraních vzduch-sklo a sklo-vzduch. Další požadovanou součástí vzorků je transparentní vodivá vrstva pro ohřev pomocí protékajícího elektrického proudu.
Thermal stability of Ti/Ni multilayer thin films
Václavík, R. ; Zábranský, L. ; Souček, P. ; Sťahel, P. ; Buršík, Jiří ; Fořt, Tomáš ; Buršíková, V.
In this work, thermal stability and mechanical properties of Ti/Ni multilayer thin films were studied. The multilayer thin films were synthesised by alternately depositing Ti and Ni layers using magnetron sputtering. The thickness of constituent layers of Ti and Ni varied from 1.7 nm to 10 nm, and one coating was deposited by simultaneous sputtering of both targets. Single crystalline silicon was used as a substrate. The effects of thermal treatment on the mechanical properties were studied using nanoindentation and discussed in relation to microstructure evaluated by X-ray diffraction. Annealing was carried out under low-pressure conditions for 2 hours in the range of 100-800 degrees C.
SMV-2020-30: Návrh technologie přípravy a realizace tenkovrstvého systému na vysokoteplotní plastový polymer
Fořt, Tomáš
Návrh technologie přípravy a realizace vrstvových systémů na vysokoteplotní plastový polymer s ověřením vhodnosti tohoto polymeru pro PVD technologii, jakou je naprašování, kdy musí být slučitelný s vakuovými požadavky pro depozici a to i při ohřevu dopadajícími atomy deponované vrstvy.
SMV-2019-16: Návrh technologie přípravy a realizace mnohovrstvého EUV systému
Fořt, Tomáš
Návrh technologie přípravy a realizace mnohovrstvých systémů střídajících ve dvojvrstvách hořčík a křemík popřípadě molybden a křemík vytvořené magnetronovým naprašováním tak, aby drsnost rozhraní uvedených vrstev nepřesahovala 0,1 nanometry a reprodukovatelnost tlouštěk dvouvrstev byla lepší než jedna desetina nanometru. Mnohovrstvý systém byl použit jako EUV zrcadlo.
Study of mechanical properties of nanolayered Ti/Ni coatings
Zábranský, L. ; Václavík, R. ; Přibyl, R. ; Ženíšek, J. ; Souček, P. ; Buršík, Jiří ; Fořt, Tomáš ; Buršíková, V.
The aim of the present work was to study the dependence of mechanical properties of Ti/Ni multilayer thin films on the thicknesses of constituent Ti and Ni layers. The multilayer thin films were synthesized by deposition of Ti and Ni layers alternately on single crystalline silicon substrates using direct current magnetron sputtering method. Thicknesses of Ti and Ni layers varied from 1.7 nm to 100 nm. The micro-structure of the multilayer films was studied using X-ray diffraction technique, scanning electron microscopy with focused ion beam technique and transmission electron microscopy. Mechanical properties obtained from nanoindentation experiments were discussed in relation to microstructural observations.
SMV-2018-04: Planární mikrostruktury pro optické aplikace
Horáček, Miroslav ; Kolařík, Vladimír ; Matějka, Milan ; Krátký, Stanislav ; Chlumská, Jana ; Meluzín, Petr ; Král, Stanislav ; Fořt, Tomáš ; Oulehla, Jindřich ; Pokorný, Pavel
Vývoj planárních mikrostruktur pro optické aplikace a následná realizace vzorků metodou elektronové litografie a dalších technik. Projekt zahrnuje studium materiálů vhodných pro vytvoření planární mikrostruktury v kovové vrstvě s ohledem na dosažitelné rozlišení a splnění požadavků na absorbanci v dané aplikaci. Elektronová litografie je použita pro vytvoření požadovaného motivu v rezistové vrstvě, která slouží jako maska pro leptání kovové vrstvy různými technikami (mokré leptání, reaktivní iontové leptání). Součástí projektu je i sepsání technické dokumentace o vyvinutých postupech a připravených vzorcích.
Detecting plasticity in al thin films by means of bulge test
Holzer, Jakub ; Pikálek, Tomáš ; Buchta, Zdeněk ; Lazar, Josef ; Tinoco, H.A. ; Chlupová, Alice ; Náhlík, Luboš ; Sobota, Jaroslav ; Fořt, Tomáš ; Kruml, Tomáš
The Bulge test proved to be a useful tool for measuring elastic properties of thin films and\nfree standing membranes, particularly Young’s modulus and residual stress. The basic principle\nof bulge test is application of differential pressure on one side of the a membrane, measurement of\nthe shape of bulged surface as a function of pressure, in this case via laser interferometer, and\nevaluation of a pressure-deflection relationship. In this study, bilayer membrane consisting of a\nsilicon nitride supporting layer and an aluminium layer deposited by means of magnetron\nsputtering is subjected to the bulge test. The results clearly show signs of a non-linear behavior\nthat is caused by plastic deformation in the aluminium layer. Finite element analysis is being\ndeveloped to describe this behavior because analytical model using deflection of central point and\npressure relation falls apart in case of non-linearity.
Reflectivity of a mirror in XUV spectral region (46.9 nm).
Schmidt, Jiří ; Koláček, Karel ; Štraus, Jaroslav ; Frolov, Oleksandr ; Prukner, Václav ; Melich, Radek ; Psota, Pavel ; Sobota, Jaroslav ; Fořt, Tomáš
A focusing mirror as an optical element is used in our applications that require light collection (e.g. for laser ablation studies). A knowledge of the mirror reflectivity is important for determination of focused laser pulse energy, or for determination of local fluencies near the laser focus. The reflectivity of our spherical focusing mirror with(/without) multi-layer coating was measured. Reflection coefficients of this mirror in a long period of time are also reported. Further, the incidence-angle dependence of the XUV reflectivity of flat mirrors is presented as well.
Interferometrický systém pro měření deformace tenkých membrán
Pikálek, Tomáš ; Holzer, Jakub ; Tinoco, H.A. ; Buchta, Zdeněk ; Lazar, Josef ; Chlupová, Alice ; Náhlík, Luboš ; Sobota, Jaroslav ; Fořt, Tomáš ; Kruml, Tomáš
Mechanické vlastnosti tenkých vrstev se mohou výrazně lišit od běžných materiálů. Příkladem metody pro jejich měření je například nanoindentace založená na zatlačování miniaturního hrotu do materiálu. Jinou metodou je tzv. bulge test, který je založen na určení mechanických vlastností (obvykle Youngova modulu a reziduálního napětí) samonosných tenkých vrstev (membrán) z jejich deformace při aplikování diferenčního tlaku z jedné jejich strany. Pro měření tvaru membrán během tohoto bulge testu byl vyvinut interferometrický systém.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 33 záznamů.   1 - 10dalšíkonec  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
2 Fořt, Tadeáš
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.