Original title:
Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons
Translated title:
Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů
Authors:
Pokorná, Zuzana ; Frank, Luděk Document type: Papers Conference/Event: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./, Skalský dvůr (CZ), 2006-05-22 / 2006-05-26
Year:
2006
Language:
eng Abstract:
[eng][cze] Applicability of the SLEEM method for direct mapping of LDOS is the topic of the present study. The main issues include managing of the non-negligible angular aperture of the incident beam and even of the rocking connected with beam scanning over the field of view. These conditions require the contrast forming model to be reconsidered.Tato práce zkoumá možnosti metody SLEEM pro přímé mapování lokální hustoty elektronových stavů. Hlavními problémy jsou nezanedbatelná úhlová apertura dopadajícího elektronového svazku a změna úhlu dopadu při rastrování po povrchu vzorku. Tyto podmínky vyžadují, aby byl model tvorby obrazového kontrastu přehodnocen.
Keywords:
electron reflectivity; image contrast; local density of states; very low energy electrons Project no.: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA202/04/0281 (CEP) Funding provider: GA ČR Host item entry: Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 80-239-6285-X
Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR
(web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences. Original record: http://hdl.handle.net/11104/0139517