Název:
Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons
Překlad názvu:
Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů
Autoři:
Pokorná, Zuzana ; Frank, Luděk Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./, Skalský dvůr (CZ), 2006-05-22 / 2006-05-26
Rok:
2006
Jazyk:
eng
Abstrakt: [eng][cze] Applicability of the SLEEM method for direct mapping of LDOS is the topic of the present study. The main issues include managing of the non-negligible angular aperture of the incident beam and even of the rocking connected with beam scanning over the field of view. These conditions require the contrast forming model to be reconsidered.Tato práce zkoumá možnosti metody SLEEM pro přímé mapování lokální hustoty elektronových stavů. Hlavními problémy jsou nezanedbatelná úhlová apertura dopadajícího elektronového svazku a změna úhlu dopadu při rastrování po povrchu vzorku. Tyto podmínky vyžadují, aby byl model tvorby obrazového kontrastu přehodnocen.
Klíčová slova:
electron reflectivity; image contrast; local density of states; very low energy electrons Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA202/04/0281 (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR Zdrojový dokument: Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 80-239-6285-X
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0139517