Název: Poly [Methyl (Phenyl) Silylene] LED Diodes – as Seen by Cathodoluminescence Study
Překlad názvu: LED diody na bázi poly[fenyl(methyl)silylenu] z hlediska katodoluminiscenčního studia
Autoři: Horák, Petr ; Schauer, Petr
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./, Skalský dvůr (CZ), 2006-05-22 / 2006-05-26
Rok: 2006
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
The susceptibility to material degradation is a characteristic property of Poly [Methyl (Phenyl) Silylene]. The UV emission decreases rapidly with the degradation. The decrease of the cathodoluminescent intensity is a consequence of a Si-Si bond deformation. The fast decrease of the intensity with time impedes the utilization of pure PMPSi as an emissive layer in LEDs due to its short life. Charakteristickou vlastností poly[fenyl(methyl)silylenu] je náchylnost k degradaci. Vlivem degradace klesá intenzita UV emise. Pokles intenzity katodoluminiscence je důsledkem deformace Si-Si vazby. Rychlý pokles intenzity brání využití poly[fenyl(methyl)silylenu] jako emisní vrstvy v LED kvůli krátké životnosti materiálu.
Klíčová slova: cathodoluminescence; degradation; LED; Poly[Methyl(Phenyl)Silylene]
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), IAA100100622 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 80-239-6285-X

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0139507

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-36241


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference