Název:
Special measurement methods for specifying of photoluminescence spectra and topograms of semiconductor materials
Autoři:
Procházková, M. ; Zavadil, Jiří Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: DDECS'95, Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 1995-09-19 / 1995-09-21
Rok:
1995
Jazyk:
eng Číslo projektu: DDU 0361/93 Poskytovatel projektu: GA MŠk Zdrojový dokument: Proceedings of Seminar Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems '95 (DDECS'95)
Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0113088