Název: Characterisation of materials and nanostructures by ballistic electron emission microscopy (BEEM)
Autoři: Walachová, Jarmila ; Miles, R. J. ; Collins, D. A. ; McGill, T. C.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: NANO'94, Brno (CZ), 1994-08-29 / 1994-08-30
Rok: 1994
Jazyk: eng
Klíčová slova: band structure; impurity distribution; measurement; nanostructured materials; semiconductor junctions
Číslo projektu: 202/94/1056
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Nanometrology Scanning Probe Microscopy and Related Techniques

Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0112946

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32186


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fotoniky a elektroniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference