Název: Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies
Autoři: Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: CSEM, Vranovská Ves (CZ), 2002-02-08 / 2002-02-09
Rok: 2002
Jazyk: eng
Abstrakt: The aim of project is to study clean and well-defined surfaces via interaction of electrons at energies from 0 to 25 keV with a high spatial resolution. During the period 1995-2001 we have built an Ultrahigh Vacuum Scanning Low Energy Electron Microscope for surface studies. The image resolution below 50 nm can be achieved at 10 eV. The residual pressure in the specimen vicinity is 10.sup.-10./sup. mbar. The paper briefly describes main parameters of the instrument.
Klíčová slova: UHV SLEEM
Číslo projektu: CEZ:AV0Z2065902 (CEP), IAA1065901 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society, ISBN 80-238-8749-1

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0101100

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-29538


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference