Název: SEM imaging of nonconductive powders at critical energy
Autoři: Zobačová, Jitka ; Zdražil, Josef ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: CSEM, Vranovská Ves (CZ), 2002-02-08 / 2002-02-09
Rok: 2002
Jazyk: eng
Abstrakt: As a rule, at electron energies normally used in SEM, the total electron yield is lower then 100% and some negative charge is dissipated in the specimen. This prevents observation of nonconductors in which the injected charge stays localized and its field destroys both geometry and brightness scale of the image.
Klíčová slova: critical energy; SEM; slow secondary electronscathode heating
Číslo projektu: CEZ:AV0Z2065902 (CEP)
Zdrojový dokument: Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society, ISBN 80-238-8749-1

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0101099

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-29537


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference