Název: Effect of the electron beam accelerating voltage and of specimen coating on the image in the microscope operating at higher pressures
Autoři: Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Špinka, Jiří
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy, Brno (CZ), 2000-07-09 / 2000-07-14
Rok: 2000
Jazyk: eng
Abstrakt: The contribution is oriented to the area of scanning electron microscopy operated in the specimen chamber at higher pressures reaching hundreds to thousands of Pa. It deals with questions of signal detection and with the study of the effect of parameters of the incident primary electron beam on signal detection.
Číslo projektu: CEZ:AV0Z2065902 (CEP), GA102/00/0969 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, ISBN 80-238-5503-4
Poznámka: Související webová stránka: mailto:autrata@isibrno.cz

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0100869

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-29471


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2011-07-01, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet