Název: Structural characterization of amorphous GexSe100-x by infrared and Raman Spectroscopy
Autoři: Nagels, P. ; Mertens, R. ; Tichý, Ladislav
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Nato Advanced Study Institute Properties and Applications of Amorphous Materials, Seč (CZ), 2000-06-25 / 2000-07-07
Rok: 2000
Jazyk: eng
Číslo projektu: CEZ:AV0Z4050913 (CEP)
Zdrojový dokument: Properties and Application of Amorphous Materials

Instituce: Ústav makromolekulární chemie AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0058758

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-24415


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav makromolekulární chemie
Konferenční materiály > Příspěvky z konference