Název: Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev
Překlad názvu: Experimental Investigation of Integrated Thick Films
Autoři: Čejka, Marek ; Jankovský, Jaroslav (oponent) ; Szendiuch, Ivan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2012
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Bakalářská práce se zabývá teorií tlustovrstvé technologie. Popisuje realizaci tlustovrstvých integrovaných obvodů, technologií tlustých vrstev, metodou sítotisku. Obsahuje základní elektrické vlastnosti tlusté vrstvy. Cílem práce je experimentální zjišťování vrstvového odporu a proudové zatížitelnosti vodičů. Součástí práce je návrh metody měření a testovací struktury. This bachelor thesis deals with the theory of thick film technology. It describes implementation of thick layer integrated circuits, thick film technology, creen printing method. It includes basic electrical properties of thick layers. The aim of this work is the experimental work deals with the detection of current rating of conductors. The work includes the design of method of measuring and test structure.
Klíčová slova: elektrické vlastnosti tlusté vrstvy; proudová zatížitelnost vodičů; sítotisk; Tlustá vrstva; vrstvový odpor; current rating coductors; electrical properties of thick layers; screen printing; sheet resistance; Thick film

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/12461

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-243101


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce