Název: Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek
Překlad názvu: Web Service for Analysis of Measurement Results of Semiconductor Circuit Elements
Autoři: Střálka, Jan ; Peringer, Petr (oponent) ; Kočí, Radek (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2013
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém pro zvýšení výstupní kvality distribuovaných čipů pomocí vyřazování potenciálně vadných čipů. Projekt je zpracován pro firmu ON Semiconductor, výrobce polovodičů v Rožnově pod Radhoštěm. Software je psaný v Javě a architektura je založena na modulech s algoritmy, které se aplikují na mapy výsledků měření polovodičových součástek (wafer mapy). Zpracovávání běží na aplikačním serveru Tomcat, aplikace je řízena přes rozhraní webové služby. The aim of the bachelor thesis is to design and implement software system for increase the output quality of the distributed chips by phasing out potentially defective chips. This project is designed for ON Semiconductor, manufacturer of semiconductors in Rožnov pod Radhoštěm. The software is written in Java and the architecture is based on the modules with algorithms that are applied to measurements map of semiconductor devices (wafer maps). The system runs on Tomcat application server, and the application is managed via web service interface.
Klíčová slova: defektivita čipů; Java; polovodiče; web service; chip defectivity; Java; semiconductor; web service

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/52880

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-235638


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce