Název: Current Fluctuations of Reverse-Biased Solar
Autoři: Škvarenina, Ľ.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This paper presents mainly noise diagnostics of pn junctions local defects in a singlecrystalline silicon solar cells structure. Research consists of a non-destructive measurement methodology of reverse-biased junction in solar cells. Diagnostics of defect areas in this documents are based especially on measurement of noise power spectral density, measurement of the radiation emitted from defects in visible range and I-V characteristic measurement.
Klíčová slova: Defects; Diagnostics; Flicker Noise; Noise Spectroscopy; Silicon; Solar Cells
Zdrojový dokument: Proceedings of the 21st Conference STUDENT EEICT 2015, ISBN 978-80-214-5148-3

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/43060

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-220489


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference