Název:
Electron probe microanalysis of nonconductive bulk samples
Autoři:
Jurek, Karel ; Gedeon, O. Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: EMAS /4./, Třešť (CZ), 2000-05-17 / 2000-05-20
Rok:
2000
Jazyk:
eng
Abstrakt: Electron probe x-ray microanalysis of nonconductiv samples can be distorted b electrical field formation under the grounded surface. This posibility is demonstarted by Monte carlo modeling.
Klíčová slova:
electric charging; electron probe; x-ray microanalysis Číslo projektu: CEZ:AV0Z1010914 (CEP) Zdrojový dokument: Electron probe microanalysis today practical aspects, ISBN 80-01-02176-9
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0031432