Název: Návrh rozšíření spektrometru pro měření absolutní odrazivosti
Překlad názvu: Design of a spectrometer accessory for absolute reflectance measurements
Autoři: Šustek, Štěpán ; Antoš, Martin (oponent) ; Klus, Jakub (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2014
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Předkládaná práce se zabývá návrhem nástavce a jeho konstrukčním řešením pro měření absolutní odrazivosti pomocí přístroje Perkin Elmer Lambda 45. Práce je rozdělená celkem do tří částí. První část se zabývá základní teorií optiky, jejíž znalost je potřeba pro správnou funkci optické části. Druhá část obsahuje přehled uspořádání nástavců používaných v praxi pro měření jak relativní, tak absolutní odrazivosti. Poslední část zahrnuje optické a konstrukční řešení nástavce. This paper describes the design and the design solution of an extension for measurement of an absolute reflectance using Perkin Elmer Lambda 45. This paper is divided into three parts. The first part deals with the basic theory of optics, knowledge of which is necessary for the proper function of the optical components used in the design. The second part provides an overview of configurations used in the practice to measure both the relative and the absolute reflectance. The last section includes the final design solution of the extension.
Klíčová slova: absolutní odrazivost; Perkin Elmer Lambda 45; spektrometr; tenké vrstvy; absolute reflectance; Perkin Elmer Lambda 45; spectrometer; thin films

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/33915

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-214627


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce