Název: Lifetime on carriers and seebeck coefficient in semiconductors
Překlad názvu: Doba života nosičů náboje a Seebeckův koeficient v polovodičích
Autoři: Vacková, S. ; Gorodynskyy, Vladyslav ; Žďánský, Karel ; Vacek, K. ; Kozak, Halina
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Workshop 2004, Praha (CZ), 2004-03-22 / 2004-03-26
Rok: 2004
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
The lifetime of carriers represents an important parameter of radiation detectors which is characteristic for them. Usually the current experimental technique for their measurement makes use of different experimental methods, as photoconductivity. Very often the product of mobility and lifetime is introduced as a criterion for the semiconductor suitability of radiation detection. Doba života nosičů náboje je důležitým parametrem radiačních detektorů, která je pro ně charakteristická. Mezi různé metodiky měření této veličiny patří obyčejně používaná metodika měření fotovodivosti. Součin pohyblivosti a doby života je známý jako kritérium vhodnosti polovodičů pro detektory záření.
Klíčová slova: carrier lifetime; photoconductivity; Seebeck effect
Číslo projektu: IBS2067354 (CEP), KSK1010104 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR, GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of WORKSHOP 2004, ISBN 80-01-02945-X

Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0013144

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-19987


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fotoniky a elektroniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference