Název: Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
Překlad názvu: Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials
Autoři: Malachov, Martin ; Jäger, Aleš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: JuveMatter 2013, Horní Lomná (CZ), 2013-05-09 / 2013-05-13
Rok: 2013
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu. Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials.
Klíčová slova: crystalography; EBSD; grain boundary
Číslo projektu: GBP108/12/G043 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013, ISBN 978-80-01-05359-1

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0232884

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-172560


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference