host ::
| Hlavní stránka > Konferenční materiály > Příspěvky z konference > Použití difrakce odražených elektronů |
Název:
Použití difrakce odražených elektronů
Překlad názvu: Applications of Electron back-scattered diffraction
Autoři: Kopeček, Jaromír
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, Žd´ár nad Sázavou (CZ), 2012-10-22 / 2012-10-25
Rok: 2012
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Klíčová slova: EBSD method; scanning electron microscopy
Zdrojový dokument: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, ISBN 978-80-7080-834-4
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0221020
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-152933
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
Překlad názvu: Applications of Electron back-scattered diffraction
Autoři: Kopeček, Jaromír
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, Žd´ár nad Sázavou (CZ), 2012-10-22 / 2012-10-25
Rok: 2012
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Klíčová slova: EBSD method; scanning electron microscopy
Zdrojový dokument: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, ISBN 978-80-7080-834-4
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0221020
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-152933
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
Záznam vytvořen dne 2013-05-01, naposledy upraven 2021-11-24.