|
| |
|
|
Měření a analýza vlastností detektorového předzesilovače
Temel, Aleš ; republic, David Novák - FEI Czech (oponent) ; Klusáček, Stanislav (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá měřením šumových charakteristik předzesilovače pro detektorovou infrastrukturu v elektronových rastrovacích mikroskopech. Proměřením různých modifikací předzesilovače je zjištěno, která z variant má pro dané zesílení největší signálový zisk a nízkou úroveň šumu s ohledem na dosahovanou rychlost. Dále jsou proměřeny jednotlivé stupně zesilovače a navržen nejvhodnější způsob, jak docílit celkového zesílení. Detailním proměřením zesilovací struktury jsou zjištěny všechny nepříjemné faktory, které zhoršují kvalitu obrazu. Na základě těchto dat je upraven hardware zesilovače, navržena softwarová řešení pro zlepšení kvality obrazu a implementováno modelové ovládání, které přímo ovládá aktivní prvky předzesilovače tak, aby šum pro dané zesílení byl co nejmenší.
|
|
|
Analýza nadzvukového proudění plynu v diferenciálně čerpané komoře elektronového mikroskopu
Matloch, Roman ; Vyroubal, Petr (oponent) ; Maxa, Jiří (vedoucí práce)
V práci bude nejprve stručně popsána problematika elektronové mikroskopie a fyzikální model proudění tekutiny. Následně předložená diplomová práce se bude zabývat analýzou a vyhodnocením vlivu nadzvukového proudění na tlak a hustotu v dráze primárního svazku elektronů v komoře diferenciálního čerpání. Jako nástroje pro analýzu, vyhodnocení a prozkoumání dané problematiky budou použity systémy CAD a CAE (Computer Aided Engineering - počítačová podpora inženýrských prací). Současně bude vytvořena metodika výpočtu uplatnitelná pro nadzvukové proudění v oblasti nízkých tlaku v systému ANSYS CFX.
|
|
|
Analýza obrazu pro korekci elektronových mikroskopů
Smital, Petr ; Schwarz, Daniel (oponent) ; Kolář, Radim (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá fyzikální podstatou korekcí elektronového mikroskopu a matematickými metodami zpracování obrazu potřebnými pro jejich kompletní automatizaci. Jedná se o různé typy ostření, korekci astigmatismu, centrování elektronového svazku či stabilizaci obrazu. Mezi popsané matematické metody patří různé metody zjištění ostrosti a astigmatismu, jak s použitím Fourierovy transformace, tak bez ní, dále metody detekce hran, operace s histogramem a lícování snímků, tedy zjišťování prostorových transformací v obraze, včetně zmínky o optimalizačních metodách. Tato práce obsahuje podrobný popis matematických metod, jejich zhodnocení na základě testovací „offline“ aplikace, popis algoritmů jejich implementace do reálného elektronového mikroskopu a výsledek testu na reálném mikroskopu v podobě videozáznamu z obrazovky ovládacího počítače.
|
|
| |
|
| |
|
|
Komunikační a řídicí karta k elektronovému mikroskopu
Robotka, Jan ; Petyovský, Petr (oponent) ; Macho, Tomáš (vedoucí práce)
Hlavním cílem této práce bylo navrhnout novou komunikační a řídicí kartu pro elektronový mikroskop, případně pro další zařízení firmy Delong Instruments a.s., která se zabývá jejich vývojem a výrobou. Tato karta by měla nahradit stávající komunikační kartu, jejíž výpočetní výkon již začíná být nedostačující. Současně nahradí i řídicí a měřicí kartu s A/D a D/A převodníky. Bude tedy umožňovat nejen komunikaci s nadřazeným počítačem a ostatní elektronikou, ale i řízení dalších subsystémů elektronového mikroskopu, zjišťování jeho provozních stavů a měření vnitřních fyzikálních veličiny. V úvodu práce byly nejprve stanoveny požadavky karty, na jejichž základě byla navržena základní koncepce včetně jednoduchého blokového schématu. Důležité bylo vybrat vhodný mikrokontrolér, který bude celou kartu řídit a je tedy její nejdůležitější částí. Důraz byl kladen především na dostatečný výpočetní výkon, velkou modularitu z hlediska jeho periferií, vidinu inovace a podpory do budoucna a samozřejmě cenu. Dále bylo požadováno, aby v sobě zahrnoval rozhraní Ethernet, pomocí kterého bude karta komunikovat s nadřazeným počítačem. Vybrán byl mikrokontrolér s jádrem ARM Cortex-M3, jehož vlastnostem je věnována samostatná kapitola. Další část práce se zabývá hlavním komunikačním rozhraním karty, kterým je již zmíněné rozhraní Ethernet. Po obecném popisu je toto rozhraní stručně prostudováno v souvislosti s vybraným mikrokontrolérem a dále je řešena otázka vyšších vrstev komunikace, kterou představují protokoly rodiny TCP/IP. Nedílnou součástí práce byl výběr důležitých komponent, kterými jsou zejména A/D a D/A převodníky. Jejich parametry budou mít velký vliv na konečné vlastnosti karty. V závěrečné, stěžejní fázi bylo navrženo obvodové schéma, které je v práci detailně popsáno a vysvětleno. Toto schéma je hlavním výsledkem celé práce a je hlavním podkladem pro následnou realizaci navržené karty. Navržená karta bude schopná zpracovat a řídit 16 diferenciálních analogových vstupních signálů, 16 diferenciálních analogových výstupních signálů, 8 digitálních vstupů, 8 jednoduchých digitálních výstupů a 4 digitální výstupy spínané přes optické oddělovače. Bude komunikovat s nadřazeným počítačem přes rozhraní Ethernet rychlostí až 100 Mbit/s, s ostatní elektronikou přes sériovou linku UART s využitím optických kabelů a s dalšími zařízeními přes rozhraní RS-485 a RS-232.
|
|
|
Kontrast v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru ve VP SEM
Goroš, Pavel ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou zkoumání látek elektronovým paprskem. Zaměřuje se na zkoumání látek pomocí metody environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (ESEM) a popisuje její zákonitosti. Přednosti ESEM vynikají především při studii nevodivých nebo vodu obsahujících, často biologických vzorků. Tyto vzorky nemusejí být, na rozdíl od klasického rastrovacího elektronového mikroskopu, nijak preparovány či fixovány a díky tomu je studována jejich přirozená povrchová struktura bez poškození vyschnutím. Základním zaměřením práce je stanovení kontrastu v obraze získaném pomocí ionizačního detektoru.
|
|
|
Testing of service life of the bolt fastening used in electron microscopy
Habarka, Ondrej ; Radoš, Jiří (oponent) ; Krejsa, Jiří (vedoucí práce)
The goal of this bachelor’s thesis is to choose suitable material and its surface finish for bolt fastening with fine thread on specimen holder in electron microscope. The first part is overview of applicable materials and metal finishes that are non-magnetic, so they do not affect electron beam in microscope. Further the thesis deals with creating the test tool for life time testing of various spindle specimens. The final result of the thesis represents comparing tested materials and choosing the most suitable for real application.
|
|
| |
host ::
RSS.