Název: Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů
Překlad názvu: Basic measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors
Autoři: Lang, Radek ; Šotner, Roman (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2013
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem. The aim of this bachelor’s thesis is to describe the dynamic parameters of semiconductor devices. The other aim is to build a measuring workplace, on which is possible to carry out measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors. The bachelors’s thesis also solves a design and a production of an universal product, on which measurements are carried out. Individual measurement is automated and individual devices are connected to the product and results are controlled by computer analysis.
Klíčová slova: Agilent VEE; Automatické; Bipolární; Dynamické; Hybridní parametry; Měření; Tranzistor; Unipolární; Zkreslení; Agilent VEE; Automatic; Bipolar; Distortion; Dynamic; Hybrid parameters; Measuring; Transistor; Unipolar

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/72327

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-578269


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce