Název: Contact system of solid state surface mapping
Autoři: Hiklová, Helena ; Havelková, Martina ; Chmelíčková, Hana ; Lapšanská, Hana
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Scientific Conference Experimental Stress Analysis 2010 /48./, Velké Losiny (CZ), 2010-05-31 / 2010-06-03
Rok: 2010
Jazyk: eng
Abstrakt: The advantages of contact solid state surface mapping are reminded in this paper. Some possibilities are demonstrated by several examples. These examples include measuring of laser beam treated silicon surface and mapping of laser cuts in metal sheets.
Klíčová slova: 3D imaging of solid surfaces; contact profilometer; contact sensing
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100522 (CEP), KAN301370701 (CEP), 1M06002 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR, GA MŠk
Zdrojový dokument: Experimental Stress Analysis 2010, ISBN 978-80-244-2533-7
Poznámka: Související webová stránka: http://ean2010.upol.cz/site_cs/

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0194899

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42523


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference