Název:
Microscopy of nanoparticles and films with nanoparticles
Autoři:
Kacerovský, Pavel ; Žďánský, Karel ; Procházková, Olga ; Vaniš, Jan ; Grym, Jan ; Vasiliev, A. ; Pašajev, E. M. Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Stucture 2009, Colloquium Czech and Slovak Crystallographic Assosiation, Hluboká nad Vltavou (CZ), 2009-06-22 / 2009-06-25
Rok:
2009
Jazyk:
eng
Abstrakt: To study the electrophoreticaly deposited nanolayers of reverse micelles with Pd nano-particles on n-type InP substrates a wide range of current microscopic methods has been used. What concerns analytical methods the X-ray diffraction and mass spectrometry SIMS were used. The most relevant results about Pd nanoparticles in the layer were obtained by using HRTEM microscopy and SIMS spectrometry. In nanolayers crystallographic arrangement of Pd nanoparticles has not been found.
Klíčová slova:
nanostructures; semiconductor devices Číslo projektu: CEZ:AV0Z20670512 (CEP), GA102/09/1037 (CEP), KAN401220801 (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR, GA AV ČR Zdrojový dokument: Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, ISSN 1211-5894
Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0187284