Název: Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie
Překlad názvu: Application of correlative AFM/SEM microscopy
Autoři: Hegrová, Veronika ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Konečný, Martin (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2019
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: AFM; EBL; EDX; FIB; grafen; korelativní AFM/SEM mikroskopie; LiteScope; nanodrát; SEM; suchý transfer; tenké vrstvy; WSe2; AFM; Correlative AFM/SEM Microscopy; dry transfer; EBL; EDX; FIB; graphene; LiteScope; nanowire; SEM; thin films; WSe2

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/179135

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-402580


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2019-08-26, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet