Název: Determination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen\nEvolution Reaction on the Surface Structure
Autoři: Novák, M. ; Kocábová, Jana ; Kolivoška, Viliam ; Pospíšil, Lubomír ; Macák, J. ; Cichoň, Stanislav ; Cháb, Vladimír ; Hromadová, Magdaléna
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Moderní elektrochemické metody /38./, Jetřichovice (CZ), 20180521
Rok: 2018
Jazyk: eng
Abstrakt: Atomic force microscopy (AFM) was used to characterize surface morphology of pristine zirconium, Si modified and FeSi modified zirconium electrodes prior and after hydrogen evolution at potentials negative of the open circuit potential value. Two main characteristic parameters were obtained from the ex situ AFM height images, namely, the roughness factor and fractal dimension of the studied surface. The effect of hydrogen evolution reaction on the electrode surface morphology was discussed. Fractal dimension values were used successfully to explain the non ideality of the interfacial capacitance.
Klíčová slova: atomic force microscopy; fractal dimension; zirconium electrode
Číslo projektu: GA16-03085S (CEP)
Zdrojový dokument: XXXVIII. Moderní elektrochemické metody. Sborník přednášek, ISBN 978-80-905221-6-9

Instituce: Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0284341

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-375656


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2018-06-19, naposledy upraven 2018-09-11.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet