Hlavní stránka > Konferenční materiály > Příspěvky z konference > Determination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen Evolution Reaction on the Surface Structure
Název:
Determination of Roughness Factor and Fractal Dimension of Zirconium in its Native and Surface Modified State using Atomic Force Microscopy. Effect of the Hydrogen Evolution Reaction on the Surface Structure
Autoři:
Novák, M. ; Kocábová, Jana ; Kolivoška, Viliam ; Pospíšil, Lubomír ; Macák, J. ; Cichoň, Stanislav ; Cháb, Vladimír ; Hromadová, Magdaléna Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Moderní elektrochemické metody /38./, Jetřichovice (CZ), 20180521
Rok:
2018
Jazyk:
eng
Abstrakt: Atomic force microscopy (AFM) was used to characterize surface morphology of pristine zirconium, Si modified and FeSi modified zirconium electrodes prior and after hydrogen evolution at potentials negative of the open circuit potential value. Two main characteristic parameters were obtained from the ex situ AFM height images, namely, the roughness factor and fractal dimension of the studied surface. The effect of hydrogen evolution reaction on the electrode surface morphology was discussed. Fractal dimension values were used successfully to explain the non ideality of the interfacial capacitance.
Klíčová slova:
atomic force microscopy; fractal dimension; zirconium electrode Číslo projektu: GA16-03085S (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR Zdrojový dokument: XXXVIII. Moderní elektrochemické metody. Sborník přednášek, ISBN 978-80-905221-6-9
Instituce: Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný na vyžádání prostřednictvím repozitáře Akademie věd. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0284341