Název: Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy
Autoři: Čermák, Jan ; Miliaieva, Daria ; Hoppe, H. ; Rezek, Bohuslav
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./, Brno (CZ), 20161019
Rok: 2017
Jazyk: eng
Abstrakt: Organic photovoltaic (PV) system consisting of P3HT:PCBM blend layer was prepared with an aluminum (Al) back electrode. After the final thermal annealing the Al layer was partially removed. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) was used to measure photovoltage response to illumination by a solar spectrum light as a function of time (up to 3 weeks). Comparison of the same KPFM measurement on the areas with and without Al revealed differences in both morphology and photovoltage response to illumination. The data are discussed with view to reducing degradation of organic PV devices.\n
Klíčová slova: degradation; Kelvin probe force microscopy; organic photovoltaics
Číslo projektu: GA15-01809S (CEP), LD15013 (CEP), MP1307 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR, GA MŠk, MPNS COST Action
Zdrojový dokument: NANOCON 2016 8th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. Conference proceedings, ISBN 978-80-87294-71-0
Poznámka: Související webová stránka: https://www.nanocon.eu/cz/sbornik-nanocon-2016/

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0274544

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-364674


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2017-10-04, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet