Název: O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP
Překlad názvu: Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub./InP thin films
Autoři: Starý, V. ; Olšovec, P. ; Jurek, Karel ; Peřina, Vratislav ; Kohout, Jindřich
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava (CZ), 1996-09-02 / 1996-09-06
Rok: 1996
Jazyk: cze
Klíčová slova: electron probe analysis; epitaxial layers; III-V semiconductors; thin films
Zdrojový dokument: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků

Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0113648

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32382


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fotoniky a elektroniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference