Original title: O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP
Translated title: Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub./InP thin films
Authors: Starý, V. ; Olšovec, P. ; Jurek, Karel ; Peřina, Vratislav ; Kohout, Jindřich
Document type: Papers
Conference/Event: Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava (CZ), 1996-09-02 / 1996-09-06
Year: 1996
Language: cze
Keywords: electron probe analysis; epitaxial layers; III-V semiconductors; thin films
Host item entry: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků

Institution: Institute of Photonics and Electronics AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0113648

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32382


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Photonics and Electronics
Conference materials > Papers