Název:
Studium optických a interferenčních jevů na tenkých vrstvách organických materiálů
Překlad názvu:
Study of Optical Properties and Interference Phenomena on Thin Films of Organic Mcaterials
Autoři:
Schmiedová, Veronika ; Čeppan, Michal (oponent) ; Mistrík, Jan (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce) Typ dokumentu: Disertační práce
Rok:
2016
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstrakt: [cze][eng]
Disertační práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých vrstev, stanovení jejich tlouštěk a disperzních závislostí indexu lomu. V první části jsou shrnuty teoretické poznatky o spektroskopické elipsometrii včetně charakterizace polarizace světla, stanovení fyzikálních vlastností a vyhodnocení experimentálních dat. Následuje experimentální a výsledková část, která se věnuje přípravě a charakterizaci tenkých vrstev studovaných materiálů: oxidu titaničitého (TiO2), nových organických materiálů (MDMO-PPV, PCDTBT, PCBTDPP, PC60BM, PC70BM) a redukovaného grafen oxidu (rGO), s ohledem pro jejich potenciální využití v organické fotovoltaice.
Ph.D. thesis is focused on the study and determination of layer thickness and optical properties, such as the dispersion dependence of the refractive index of various materials prepared in the form of thin layer. In the first part of this work the theoretical findings in the field of spectroscopic ellipsometry are summarised. These findings are followed by the description and characterization of the light polarization, evaluation of experimental data and determination of the physical properties of studied materials. Experimental and result section of this work is devoted to the preparation and characterization of thin films of the studied materials: titanum dioxide (TiO2), new organic materials (MDMO-PPV, PCDTBT, PCBTDPP, PC60BM, PC70BM) and reduced graphene oxide (rGO). These were all selected with respect to their potential use in the organic photovoltaics.
Klíčová slova:
anorganické materiály; fotovoltaické články; optické vlastnosti; Organické materiály; spektroskopická elipsometrie; tenké vrstvy; UV VIS spektroskopie; and spectroscopic ellipsometry; anorganic materials; optical properties; Organic materials; photovoltaic cells; thin film layers; UV VIS spectroscopy
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/63176