|
|
Study of the optical properties of titanium dioxide thin films
Rackovská, Anna Patrícia ; Schmiedová, Veronika (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
The bachelor thesis is focused on the acquirement of thin film layers optical properties characterisation methods, done on inject printed titanium dioxide layers deposed on soda lime glass. Its main emphasis was on spectroscopic ellipsometry that was used to determine the refractive indices and the extinction coefficients of the samples in range of wavelengths from 200 nm to 850 nm and layer thickness. This thesis also shows another options of thin film layers preparation and several other methods to characterise properties of samples, specifically optical microscopy, used to set sample boundary as rough, mechanical profilometry which defined thickness of layers in range of 80 nm for the most thin sample to 250 nm for the most thick sample, and UV-VIS spectroscopy.
|
|
|
Study of optical properties of thin films of perovskite MAPbBr3 precursors
Rackovská, Anna Patrícia ; Schmiedová, Veronika (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
This diploma thesis is focused on preparation of perovskite methylammonium lead bromide thin film layers and also thin film layers of its precursors, namely methylammonium bromide and lead(II) bromide, by spin-coating from the solution; and optical characterisation of the prepared thin film layers by UV-VIS spectroscopy and spectroscopical ellipsometry. Methylammonium bromide does not absorb in visible nor ultraviolet region, the maximum absorption of lead(II) bromide occurred in ultraviolet region, methylammonium lead bromide absorbs in visible region. Optical band gaps were determined by Tauc method to (3,5 ± 0,1) eV for lead(II) bromide and 2,15 eV, respectively 2,25 eV for perovskite. Refractive indices and extinction coefficients were determined by ellipsometry in range of wavelengths from 290 nm to 830 nm and their dependence with layer thickness was discussed. Ellipsometry model used in this thesis consist on Tauc-Lorentz oscillators for methylammonium bromide, methylammonium lead bromide and partially for lead(II) bromide, which another part is formed by New Amorphous oscillator.
|
|
|
Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
|
|
|
Studium optických vlastností tenkých vrstev organických fotovoltaických článků
Čuboň, Tomáš ; Schmiedová, Veronika (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá měřením optických vlastností tenkých vrstev organických materiálů využívaných v organických solárních článcích (OSC). Byly studovány oxidy grafenu a jeho redukované formy především se zaměřením na jejich potenciální využití ve vrstvách pro transport děr (HLT). V první části této práce jsou uvedeny teoretické podklady týkající se tenkých vrstev s ohledem na jejich optické vlastnosti. Je zde dále diskutována problematika depozice tenkých filmů GO a jejich následná redukce na redukované formy GO (rGO). Experimentální část této diplomové práce je zaměřena na optickou charakterizaci deponovaných tenkých vrstev rGO pomocí optické mikroskopie, UV-VIS spektroskopie, FT-IR spektroskopie a spektroskopické elipsometrie. Na závěr jsou naměřené výsledky diskutovány a porovnány s již publikovanou literaturou.
|
|
|
Study of the optical properties of graphene oxide thin films
Smolková, Denisa ; Zmeškal, Oldřich (oponent) ; Schmiedová, Veronika (vedoucí práce)
This thesis examines the preparation of thin layers and determining their optical properties. It is focused on graphene oxide. In the theoretical part, basic information about the thin layers and their preparation is supplied. That is followed by a description of various methods of determining their optical properties and properties of light. Experimental part and results are focused on the preparation of thin layers by spin-coating and evaluation of measured values using optical microscopy, profilometry, spectroscopic ellipsometry and UV VIS spectroscopy. The conclusion summarizes the results of these methods.
|
|
|
Studium optických a interferenčních jevů na tenkých vrstvách organických materiálů
Schmiedová, Veronika ; Čeppan, Michal (oponent) ; Mistrík, Jan (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Disertační práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých vrstev, stanovení jejich tlouštěk a disperzních závislostí indexu lomu. V první části jsou shrnuty teoretické poznatky o spektroskopické elipsometrii včetně charakterizace polarizace světla, stanovení fyzikálních vlastností a vyhodnocení experimentálních dat. Následuje experimentální a výsledková část, která se věnuje přípravě a charakterizaci tenkých vrstev studovaných materiálů: oxidu titaničitého (TiO2), nových organických materiálů (MDMO-PPV, PCDTBT, PCBTDPP, PC60BM, PC70BM) a redukovaného grafen oxidu (rGO), s ohledem pro jejich potenciální využití v organické fotovoltaice.
|
|
|
Studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá studiem tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP). V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Dále jsou popsány metody zkoumající kvalitu jejich povrchu, především s využitím optické a interferenční mikroskopie. Ke zpracování dat byla využita obrazová analýza pomocí programu HarFA. Pro stanovení tloušťky vrstvy a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop. Z interferenčních obrazců byla určena šířka pruhů pro různé hodnoty prahu, ale především nehomogenita rozhraní pruhů, která vypovídá o nehomogenitě povrchu vzorku. Z obrazů pořízených pomocí optického mikroskopu byly určeny střední chyby (ale i chyby vyšších řádů) charakterizující nehomogenity povrchů vzorků. V závěru práce jsou výsledky obou metod porovnány.
|
|
|
Study of optical properties of thin films of perovskite MAPbBr3 precursors
Rackovská, Anna Patrícia ; Schmiedová, Veronika (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
This diploma thesis is focused on preparation of perovskite methylammonium lead bromide thin film layers and also thin film layers of its precursors, namely methylammonium bromide and lead(II) bromide, by spin-coating from the solution; and optical characterisation of the prepared thin film layers by UV-VIS spectroscopy and spectroscopical ellipsometry. Methylammonium bromide does not absorb in visible nor ultraviolet region, the maximum absorption of lead(II) bromide occurred in ultraviolet region, methylammonium lead bromide absorbs in visible region. Optical band gaps were determined by Tauc method to (3,5 ± 0,1) eV for lead(II) bromide and 2,15 eV, respectively 2,25 eV for perovskite. Refractive indices and extinction coefficients were determined by ellipsometry in range of wavelengths from 290 nm to 830 nm and their dependence with layer thickness was discussed. Ellipsometry model used in this thesis consist on Tauc-Lorentz oscillators for methylammonium bromide, methylammonium lead bromide and partially for lead(II) bromide, which another part is formed by New Amorphous oscillator.
|
|
|
Study of the optical properties of graphene oxide thin films
Smolková, Denisa ; Zmeškal, Oldřich (oponent) ; Schmiedová, Veronika (vedoucí práce)
This thesis examines the preparation of thin layers and determining their optical properties. It is focused on graphene oxide. In the theoretical part, basic information about the thin layers and their preparation is supplied. That is followed by a description of various methods of determining their optical properties and properties of light. Experimental part and results are focused on the preparation of thin layers by spin-coating and evaluation of measured values using optical microscopy, profilometry, spectroscopic ellipsometry and UV VIS spectroscopy. The conclusion summarizes the results of these methods.
|
|
|
Study of the optical properties of titanium dioxide thin films
Rackovská, Anna Patrícia ; Schmiedová, Veronika (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
The bachelor thesis is focused on the acquirement of thin film layers optical properties characterisation methods, done on inject printed titanium dioxide layers deposed on soda lime glass. Its main emphasis was on spectroscopic ellipsometry that was used to determine the refractive indices and the extinction coefficients of the samples in range of wavelengths from 200 nm to 850 nm and layer thickness. This thesis also shows another options of thin film layers preparation and several other methods to characterise properties of samples, specifically optical microscopy, used to set sample boundary as rough, mechanical profilometry which defined thickness of layers in range of 80 nm for the most thin sample to 250 nm for the most thick sample, and UV-VIS spectroscopy.
|
host ::
RSS.